技术参数：

1. 支持粉末、块体等样品的物相定性与定量分析。

2. 支持残余应力测试（如sin²ψ法/多ψ扫描），可进行宏观残余应力分析。

3. 基于θ-θ测角仪与一维探测器配置实现上述测试，具体附件及测试条件以实际配置为准。

功能特色：

日本理学 SmartLab SE 多功能 X 射线衍射仪，集物相分析与残余应力测试于一体。设备采用 CBO 自动切换光路，可对粉末、块体、薄膜等样品进行物相定性与定量分析；支持 sin²ψ 法宏观残余应力测量，并借助 Guidance 专家系统和 Stress 插件辅助光路配置与应力计算，操作简便，适用于金属、陶瓷、无机材料及薄膜涂层等样品的表征。具体附件及测试条件以实际配置为准。

服务内容：

1. 锂物相分析：粉末、块体、薄膜等样品的物相定性与定量分析。

2. 残余应力测试：基于 sin²ψ 法进行宏观残余应力测量与分析。

3. 薄膜/涂层表征：利用平行光路开展薄膜、涂层等样品的物相与结构分析。

制样要求：

1. 样本要求：粉末样品需研磨至 200目以上（越细越好），干燥、无团聚，用量 ≥20 mg；块体/薄膜样品尺寸建议 ≤10 mm × 10 mm × 5 mm，测试面须 平整、清洁，薄膜样品需附着在刚性基底上并 标明测试面。残余应力样品测试面须清洁平整，板状或片状，厚度 ＜6 mm，长 ＜30 mm，测试方向长度大于宽度2倍。

2. 特殊条件：易氧化/吸湿样品请密封送检并说明气氛需求；微区、极少量或需特殊附件的样品，请提前沟通确认测试可行性后受理。