技术参数：

1. 光学系统：ICCS 无限远色差校正光学系统。

2. 物镜配置：平场半复消色差明暗场萤石物镜，典型配置为 5×/0.12、10×/0.25、20×/0.40、50×/0.80、100×/0.90；

3. 总放大倍率：50×～1000×。

4. 观察方式：反射光路支持明场、高级暗场（ADF）、偏光、DIC（微分干涉相衬）；透射光路可扩展明场、相差、荧光等模式。

5. 摄像系统：原装 500 万物理像素 CCD/CMOS 摄像组件，用于显微图像采集与存档。

6. 载物台与样品适配：倒置式机型，专为大尺寸、厚重样品设计，无需将样品减薄至透光厚度即可从上方直接观察抛光面；物镜转盘为编码型 5 孔明暗场转盘，更换物镜后系统可自动识别倍率。

功能特色：

蔡司 Axio Vert.A1 是一台倒置式材料金相显微镜，核心优势在于“重样品直接观察 + 多对比度联用”。与正置显微镜要求样品厚度受物镜工作距离严格限制不同，倒置光路使物镜从样品下方朝上观察，抛光面只需朝下放置，大块失效件、焊接接头、管材截面乃至较厚的铸锻件均可直接装夹观察，省去反复切割减薄环节。设备适用于钢铁、有色金属及合金的显微组织分析、焊接热影响区评定、表面处理与镀层检测，以及零部件断裂失效原因分析等场景。

服务内容：

1. 金属与合金显微组织分析：开展钢铁、铝合金、铜合金、钛合金等材料的基体组织观察、晶粒度评定。

2. 焊接接头与涂层/镀层评定：观察焊缝中心区、热影响区与基体的组织过渡，测量涂层或镀层厚度，评估界面结合与扩散层特征。

3. 失效分析与缺陷表征：针对断裂件、磨损面、腐蚀损伤部位进行显微组织检查，辅助判断裂纹走向、脱碳层/氮化层深度、偏析程度及原材料缺陷，为失效原因分析提供金相依据。

4. 图像采集与定量辅助：提供明场/暗场/偏光/DIC 模式下的显微拍照，并可根据需求进行长度、面积、晶粒尺寸等基础图像测量。

制样要求：

1. 观察面状态：送样样品须具有一个平整、光洁的抛光观察面，表面无肉眼可见划痕、氧化皮、油污或残留腐蚀产物。未经抛光的切割面或粗糙磨面无法获得可解析的显微组织像。

2. 尺寸与装夹：块状样品的观察面直径或边长宜 ≥20 mm，厚度宜 ≥10 mm，以保证倒置载物台装夹稳定；小于该尺寸的薄片、丝材、细管或不规则碎块，须提前进行冷镶嵌或机械夹持处理。

3. 腐蚀状态：若样品已进行化学腐蚀（如 4% 硝酸酒精），须在观察前充分冲洗、吹干，避免残留腐蚀液在物镜下方继续反应或污染镜头。

4. 磁性、放射性或易挥发样品：强磁性样品须提前退磁或固定稳妥；含放射性、有毒元素或易在真空中释放气体的样品，须事先告知管理员并经安全评估后方可上机。